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簡要描述:Hellma 用于吸光度和熒光測量的比色皿用于吸光度和熒光測量的比色皿 Hellma Analytics 生產(chǎn)各種用于光譜學(xué)和細(xì)胞計數(shù)的比色皿,光路長度跨度為 0.01 mm 至 100 mm 及以上。由于其在吸光度和熒光測量時的穩(wěn)定性、最高精確度和可靠性,Hellma 比色皿在實驗室的各個領(lǐng)域都表現(xiàn)出色。
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Hellma 用于吸光度和熒光測量的比色皿
用于吸光度和熒光測量的比色皿 Hellma Analytics 生產(chǎn)各種用于光譜學(xué)和細(xì)胞計數(shù)的比色皿,光路長度跨度為 0.01 mm 至 100 mm 及以上。
由于其在吸光度和熒光測量時的穩(wěn)定性、最高精確度和可靠性,Hellma 比色皿在實驗室的各個領(lǐng)域都表現(xiàn)出色。
更重要的是,功能優(yōu)化的邊角斜角設(shè)計可以防止因分裂而造成的損壞風(fēng)險,并協(xié)助用戶進(jìn)行日常工作。根據(jù)要求,Hellma能夠生產(chǎn)針對特定應(yīng)用領(lǐng)域定制的定制模型。
比色皿透射率的測量 如果需要,可以將比色皿進(jìn)行光譜校準(zhǔn),分成具有相等透射率值的組(測量不確定度±1%)。這些比色皿有一個三位數(shù)的校準(zhǔn)代碼,其中包含有關(guān)材料的編碼數(shù)據(jù)以及比色皿材料典型波長下的透射率。
比色皿的旋光檢查 可根據(jù)要求對內(nèi)部寬度大于 5 mm 的比色皿進(jìn)行旋光檢查。它們標(biāo)有“P",并附有測試證書,確認(rèn)偏振面的旋轉(zhuǎn)不超過 0.01 度。
優(yōu)勢
● 窗口平行度高,最大公差為 ± 0.01 毫米
● 出色的光程長度精度低至 0.003 毫米 (3 µm),可實現(xiàn)高尺寸精度和可重復(fù)的測量結(jié)果
● 光學(xué)窗口表面平整度為 0.001 毫米 (3 µm) 1 µm)
● 由于各個組件的熱粘合(有效地整體式),因此具有非常高的溫度穩(wěn)定性和耐化學(xué)性
● 保證從 200 nm 到 3500 nm 的透射率至少為 82%,具體取決于材料
比色皿并不全部相同,即使它們有時看起來相同。差異在于細(xì)節(jié),并且對于測量結(jié)果至關(guān)重要。
以Hellma的比色皿窗口為例,它擁有很好的品質(zhì)和超過 0.001 毫米(1 微米)的平面度公差。兩個窗口表面相對于彼此的平行度同樣重要。
Hellma的高精度生產(chǎn)保證比色皿窗口波的正面變形小于 4 lambda,如果 lambda = 546 nm,則約為 0.001 毫米(1 微米)。高水平的平整度表明 Hellma Analytics 的比色皿正在設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)??傮w而言,這是進(jìn)行可靠、可重復(fù)和精確測量的理想基礎(chǔ)。
Hellma 用于吸光度和熒光測量的比色皿